Простой и доступный метод изучения поверхностей изломов и поверхностей объектов контроля с присутствующими на их поверхностях дефектам с помощью оптических и цифровых микроскопов и устройств при увеличениях от 1 до 120 крат.

Продвинутый научно-исследовательский метод оценки топографии поверхности излома или поверхности объекта контроля с целью установления особенностей образования дефектов, разрушения или оценки очага зарождения трещин или микро-дефектов.

Продвинутый научно-исследовательский метод оценки микро-механизма роста трещин, топографии поверхности излома или поверхности объекта контроля с целью установления особенностей образования дефектов, разрушения или каких-либо других микро-дефектов. Метод электронной фрактографии совмещенный с энергодисперсионным спектральным анализом и 3D электронной профилометрией позволяет проводить анализ содержания химических элементов на поверхности излома, очага зарождения трещины, а также проводить 3D моделирование с исследованием шероховатости в микро- и нано- метровом диапазоне.